用于消費(fèi)安全的DELTA手持式XRF光譜儀可對(duì)產(chǎn)品和部件進(jìn)行快速篩查，以對(duì)產(chǎn)品符合CPSIA、RoHS、WEEE、EN71-3及其它法規(guī)的情況進(jìn)行監(jiān)管。分析儀可以迅速給出精確的監(jiān)管結(jié)果，以使工作人員根據(jù)具體情況采取措施?，F(xiàn)在，包括鎳（Ni）元素在內(nèi)的新元素正被考慮添加到現(xiàn)存的監(jiān)管法規(guī)中。DELTA分析儀可以測(cè)量出這些元素以及更多新元素的含量。Olympus會(huì)密切關(guān)注全球監(jiān)管法規(guī)的發(fā)展情況，以確保我們的分析儀及所利用的技術(shù)與監(jiān)管要求同步發(fā)展。用于保證產(chǎn)品符合消費(fèi)者安全和RoHS指令的DELTA手持式XRF分析儀可隨時(shí)隨地對(duì)大量的消費(fèi)和電子產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)鉛、鎘、汞、溴及其它元素進(jìn)行簡(jiǎn)單、快速、符合規(guī)范的無(wú)損篩檢。用于ASTM的方法F2617-08、HR4040、CPSC、CPSIA等等對(duì)于產(chǎn)品的安全問(wèn)題，這里沒(méi)有讓步的余地。DELTA手持式XRF分析儀是進(jìn)行以獲得一般性合格證書(shū)（GCC）為目的的任何合理的檢測(cè)程序的關(guān)鍵性設(shè)備。尼通XL2合金分析儀 礦石檢測(cè)儀 貴金屬模式 。奧林巴斯貴金屬分析儀

！1.用于制造業(yè)質(zhì)量保證/質(zhì)量控制的Vanta手持式合金手持式光譜儀，可為用戶(hù)提供為精細(xì)的材料化學(xué)成份信息，從而可在材料精度至關(guān)重要的情況下，快速精確地辨別純金屬和金屬的牌號(hào)。用于回收和廢料分揀的Vanta手持式光譜儀根據(jù)其不同的型號(hào)符合IP64或IP65評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，可以抵御雨水、塵土和灰塵的侵襲，并通過(guò)了美國(guó)**部標(biāo)準(zhǔn)（MIL-STD-810G）中的防墜落測(cè)試，從而有助于防止手持式光譜儀在條件為惡劣的廢料場(chǎng)中受到損壞，并可大程度地延長(zhǎng)工作時(shí)間。用于材料成份辨別（PMI）的Vanta手持式光譜儀，可為用戶(hù)提供為精細(xì)的材料化學(xué)成份信息，從而可快速精確地辨別金屬的牌號(hào)，以確保用戶(hù)在關(guān)鍵的位置上安裝牌號(hào)正確的合金部件。伊諾斯手持光譜儀分析儀便攜式XRF熒光光譜儀品牌。

1.美國(guó)奧林巴斯手持光譜儀企業(yè)生產(chǎn)通過(guò)Vanta分析儀現(xiàn)場(chǎng)快速完成金屬來(lái)料，制成，倉(cāng)管，出貨過(guò)程中的牌號(hào)、化學(xué)成分品質(zhì)檢測(cè)，避免因產(chǎn)品混料、材質(zhì)不達(dá)標(biāo)等問(wèn)題給企業(yè)帶來(lái)的經(jīng)濟(jì)和名譽(yù)損失。在很多行業(yè)中，都需要測(cè)量產(chǎn)品的涂層厚度。Vanta分析儀的鍍層模式可以在幾秒鐘內(nèi)測(cè)量出以微米為單位的涂層厚度。這個(gè)功能可以多測(cè)量3層覆蓋在任何類(lèi)型基底上的涂層，基底材料可以是金屬、塑料、玻璃，甚至木材。Vanta手持式分析儀是一款在地質(zhì)分析活動(dòng)中極受歡迎的工具，這些應(yīng)用包括礦業(yè)勘探中地表露頭和鉆芯分析，選礦分析以及土壤，污水，植物的重金屬或者營(yíng)養(yǎng)元素分析。分析儀可以在各種多樣復(fù)雜的環(huán)境中提供具有重復(fù)性的精確結(jié)果。Vanta分析儀可以全天候工作，甚至在沙?；騾擦汁h(huán)境的高溫情況下；在邊遠(yuǎn)地區(qū)，這種優(yōu)勢(shì)體現(xiàn)得更為明顯。

1.    融合鍍層市場(chǎng)需求，設(shè)計(jì)岀的一款性能高的Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀。適用于鍍層厚度測(cè)量及材料分析，具有無(wú)損，可靠，高生產(chǎn)力，高靈活性等優(yōu)點(diǎn)，可用來(lái)定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量，廣泛應(yīng)用于電路板、半導(dǎo)體、電鍍、五金產(chǎn)品、汽車(chē)零部件、衛(wèi)浴潔具、珠寶等工業(yè)中的功能性鍍層電鍍槽液中的成分濃度分析。1.    客戶(hù)一般使用奧林巴斯Vanta?手持式X射線(xiàn)熒光（XRF）光譜儀*來(lái)確定合金，金屬和其他材料的化學(xué)成分，但您是否知道還可以使用手持式XRF光譜儀測(cè)量涂層鍍層的厚度？奧林巴斯Vanta手持式XRF光譜儀可以測(cè)量金屬，塑料，玻璃甚至木材上涂層鍍層的厚度。買(mǎi)手持光譜儀來(lái)桓球包您滿(mǎn)意！

1.    奧林巴斯手持光譜儀基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線(xiàn)與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱(chēng)次級(jí)光電效應(yīng)或無(wú)輻射效應(yīng)。所逐出的次級(jí)光電子稱(chēng)為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線(xiàn)熒光，其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。因此，射線(xiàn)熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的,與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測(cè)出熒光X射線(xiàn)的波長(zhǎng),就可以知道元素的種類(lèi),這就是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線(xiàn)的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線(xiàn)探測(cè)器將樣品元素的X射線(xiàn)的特征譜線(xiàn)的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特征信息?；盖騼x器有多種進(jìn)口品牌手持光譜儀 現(xiàn)貨 。美國(guó)奧林巴斯光譜儀配件

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