該金屬層凹陷區(qū)域在該第二表面的投影區(qū)域位于該中心凹陷區(qū)域當中。在一實施例中,為了設計與制作的方便,其中該金屬層凹陷區(qū)域與該中心凹陷區(qū)域的形狀相應,該金屬層凹陷區(qū)域的面積小于該中心凹陷區(qū)域的面積。總上所述,本申請?zhí)峁┝司哂袕姸容^大的基板結構的芯片,其具有晶圓層的邊框結構,也可以具有晶圓層的內框結構,以便減低芯片在進行熱處理、加工與焊貼等工序時,因為應力或熱應力而導致失效的機率。在此同時,還要降低上述基板結構的電阻值,以便減少消耗功率,降低熱耗損,增進芯片的使用壽命。以上所述,*是本發(fā)明的較佳實施例而已,并非對本發(fā)明作任何形式上的限制,雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上,然而并非用以限定本發(fā)明,任何熟悉本專業(yè)的技術人員,在不脫離本發(fā)明技術方案范圍內,當可利用上述揭示的技術內容作出些許更動或修飾為等同變化的等效實施例,但凡是未脫離本發(fā)明技術方案的內容,依據本發(fā)明的技術實質對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾,均仍屬于本發(fā)明技術方案的范圍內。什么才可以稱為半導體晶圓?北京半導體晶圓應用
τ1是氣泡內的溫度上升到高于臨界內爆溫度的時間間隔,τ2是氣泡內的溫度下降到遠低于臨界內爆溫度的時間間隔。由于可控的非穩(wěn)態(tài)的氣穴振蕩在清洗過程中具有一定的氣泡內爆,因此,可控的非穩(wěn)態(tài)的氣穴振蕩將提供更高的pre(particleremovalefficiency,顆粒去除效率),而對圖案結構造成**小的損傷。臨界內爆溫度是會導致***個氣泡內爆的氣泡內的**低溫度。為了進一步提高pre,需要進一步提高氣泡的溫度,因此需要更長的時間τ1。通過縮短時間τ2來提高氣泡的溫度。超或兆聲波的頻率是控制內爆強度的另一個參數??煽氐姆欠€(wěn)態(tài)的氣穴振蕩是通過設置聲波電源在時間間隔小于τ1內頻率為f1,設置聲波電源在時間間隔大于τ2內頻率為f2,重復上述步驟直到晶圓被清洗干凈,其中,f2遠大于f1,**好是f1的2倍或4倍。通常,頻率越高,內爆的強度越低。τ1是氣泡內的溫度上升到高于臨界內爆溫度的時間間隔,τ2是氣泡內的溫度下降到遠低于臨界內爆溫度的時間間隔??煽氐姆欠€(wěn)態(tài)的氣穴振蕩將提供更高的pre(particleremovalefficiency,顆粒去除效率),而對圖案結構造成**小的損傷。臨界內爆溫度是會導致***個氣泡內爆的氣泡內的**低溫度。為了進一步提高pre,需要進一步提高氣泡的溫度。遼陽半導體晶圓產品介紹半導體晶圓推薦貨源.?
氣穴振蕩是一種混沌現象??栈瘹馀莸漠a生及其破裂受到很多物理參數的影響。這些猛烈的氣穴振蕩例如不穩(wěn)定的氣穴振蕩或微噴射將損傷這些圖案結構(鰭結構、槽和通孔)。在傳統的超聲波或兆聲波清洗過程中,只有當功率足夠高,例如大于5-10瓦時,才會產生***的顆粒去除效率(“pre”)。然而,當功率大于約2瓦時,晶圓開始有明顯的損傷。因此,很難找到功率窗口使得晶圓在被有效清洗時避免重大的損傷。因此,維持穩(wěn)定或可控的氣穴振蕩是控制聲波機械力低于損傷限度而仍然能夠有效地去除圖案結構中的雜質顆粒的關鍵。因此,提供一種系統和方法,用于控制在晶圓清洗過程中由超聲波或兆聲波設備產生的氣泡氣穴振蕩,以便能夠有效地去除細小的雜質顆粒,而不會損傷晶圓上的圖案結構。技術實現要素:本發(fā)明提出一種清洗半導體晶圓的方法,包括在清洗過程中輸送清洗液到半導體晶圓表面;在該清洗過程中通過聲波換能器向清洗液傳遞聲能,以在***預定時段以***預定設置及在第二預定時段以第二預定設置交替向聲波換能器供電,其中,清洗液中的氣泡氣穴振蕩在***預定時段內增大,在第二預定時段內減小,***預定時段和第二預定時段連續(xù)的一個接著一個,因此。
并且與基座110形成腔室c。在實際應用中,殼體120接觸基座110。依據實際情況,殼體120可與基座110密封地接觸,然而本發(fā)明不以此為限。由殼體120與基座110形成的腔室c被配置成容納半導體晶圓200。殼體120具有排氣口121,其遠離基座110設置。微波產生器130設置于殼體120上,并且被配置成對半導體晶圓200所在的腔室c發(fā)射微波w。在半導體晶圓干燥設備100運行的期間,半導體晶圓200首先被設置于基座110上,使得半導體晶圓200位于殼體120與基座110所形成的腔室c內。接下來,微波產生器130對位于腔室c內的半導體晶圓200發(fā)射微波w,使得先前的工藝殘留于半導體晶圓200表面的水(圖未示)接收到發(fā)射自微波產生器130的微波w。如此一來,半導體晶圓200表面的水被加熱并轉換成水蒸氣s,而水蒸氣s隨后經由殼體120的排氣口121排出腔室c。因此,半導體晶圓200表面的水被移除,使得半導體晶圓200變得干燥。運用微波w移除先前的工藝殘留于半導體晶圓200表面上的水,使得干燥過程變得簡單,從而能有效降低干燥半導體晶圓200的作業(yè)成本。此外,如圖1所示,微波產生器130設置于殼體120外。殼體120具有多個穿孔h1,其被配置成供微波w穿越,使得發(fā)射自微波產生器130的微波w得進入腔室c。浙江12英寸半導體晶圓代工。
金屬層310可以代換為金屬層510。圖6所示剖面600的**是晶圓層320。該結構300所形成的芯片可以是矩形,也可以是正方形。在該晶圓層320的中間是該金屬層310。該金屬層310的上下軸長度611與左右軸長度612可以是相同,也可以不同。當兩者相同時,該金屬層310的剖面是正方形。該金屬層310剖面與該晶圓層320外緣之間,是該晶圓層320用于包圍該金屬層310的四個邊框。該四個邊框的厚度可以相同,也可以不同。舉例來說,相對于上下外緣的厚度621與623可以相同,相對于左右外緣的厚度622與624可以相同。但厚度621與622可以不同。本領域普通技術人員可以透過圖6理解到,本申請并不限定該晶圓層320外緣的形狀。換言之,本申請不限定該芯片的形狀。本申請也不限定該金屬層310的形狀。除此之外,當該晶圓層320與該金屬層310都是矩形時,本申請也不限定該晶圓層320用于包圍該金屬層310的四個邊框的厚度。在一實施例當中,這四個邊框的厚度621~624可以相同,以簡化設計與制作的問題。在另一實施例當中,這四個邊框當中兩組邊框的厚度可以相同,以簡化設計與制作的問題。在更一實施例當中,這四個邊框的厚度621~624可以完全不同,以便適應芯片設計的需要。請參考圖7所示。咸陽12英寸半導體晶圓代工。四川4寸-12寸半導體晶圓
半導體行業(yè),晶圓制造和晶圓加工。北京半導體晶圓應用
進而可取出產品。另外,在一個實施例中,所述動力機構103包括固設在所述動力腔26底壁上的第三電機25,所述第三電機25的頂面動力連接設有電機軸24,所述電機軸24的頂面固設有***轉盤23,所述升降腔18的上下壁之間轉動設有***螺桿17,所述***螺桿17貫穿所述升降塊15,并與所述升降塊15螺紋連接,所述***螺桿17向下延伸部分伸入所述動力腔26內,且其底面固設有第二輪盤21,所述第二輪盤21的底面與所述***轉盤23的頂面鉸接設有第三連桿22,所述第二輪盤21直徑大于所述***轉盤23的直徑,通過所述第三電機25的運轉,可使所述電機軸24帶動所述***轉盤23轉動,進而可使所述第二輪盤21帶動所述***螺桿17間歇性往返轉動,則可使所述升降塊15間歇性升降,繼而可使所述切割片50能夠連續(xù)切割所述硅錠48。另外,在一個實施例中,所述傳動機構104包括滑動設在所述移動腔13前后壁上的移動塊53,所述海綿52向所述移動腔13延伸部分伸入所述移動腔13內,并與所述移動塊53固定連接,所述移動腔13的下側連通設有冷卻水腔14,所述冷卻水腔14內存有冷卻水,所述海綿52向下延伸部分伸入所述冷卻水腔14內,所述移動塊53的頂面固設有第四連桿54,所述傳動腔55的底壁上轉動設有第二螺桿57。北京半導體晶圓應用
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