頂針探針阻抗彈力試驗(yàn)機(jī)價(jià)格:電議型號(hào):S205BD生產(chǎn)地:中國(guó)大陸訪問(wèn):466次發(fā)布日期:2018/8/23(更新日期:2019/12/6)東莞市微克檢測(cè)設(shè)備有限公司旗艦版第2年產(chǎn)品簡(jiǎn)介頂針探針阻抗彈力試驗(yàn)機(jī)簡(jiǎn)介:此款試驗(yàn)機(jī)為測(cè)試頂針探針量身定制,頂針和探針力值、行程、接觸電阻為三個(gè)主要測(cè)試指標(biāo)。我司此款機(jī)器可以同時(shí)測(cè)試頂針的荷重-位移-電阻曲線,同時(shí)也可以測(cè)試頂針的壽命測(cè)試。通過(guò)電腦設(shè)定儲(chǔ)存數(shù)據(jù),是一款很好的頂針探針試驗(yàn)機(jī)器。在測(cè)試頭與底部測(cè)試夾具都需要精細(xì)處理,以便能保證測(cè)試細(xì)小的接觸電阻。詳細(xì)內(nèi)容公司簡(jiǎn)介頂針探針阻抗彈力試驗(yàn)機(jī)規(guī)格:測(cè)試荷重種類;2kgf、500gf(任選1個(gè))顯示荷重:測(cè)試行程:100mm顯示行程:()測(cè)定速度范圍:1-300mm/min(可以達(dá)600mm/min)傳動(dòng)機(jī)構(gòu):滾珠螺桿采樣速率:27KHZ目前我司試驗(yàn)機(jī)技術(shù)先進(jìn):DSP數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),工業(yè)以太網(wǎng)傳輸數(shù)據(jù),采樣速率高達(dá)27kHZ,***抗干擾能力。頂針探針阻抗彈力試驗(yàn)機(jī)簡(jiǎn)介:此款試驗(yàn)機(jī)為測(cè)試頂針探針量身定制,頂針和探針力值、行程、接觸電阻為三個(gè)主要測(cè)試指標(biāo)。我司此款機(jī)器可以同時(shí)測(cè)試頂針的荷重-位移-電阻曲線,同時(shí)也可以測(cè)試頂針的壽命測(cè)試。通過(guò)電腦設(shè)定儲(chǔ)存數(shù)據(jù)。蘇州昕昀科技有限公司是一家專業(yè)從事環(huán)境檢測(cè)設(shè)備、力學(xué)檢測(cè)設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售服務(wù)的****。開(kāi)封T型頂針
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,尤其涉及一種空氣頂針式芯片膜上分離裝置。背景技術(shù):在半導(dǎo)體芯片的制作過(guò)程中,整個(gè)晶圓制作完成后,首先需要把晶圓貼到粘性膜上,進(jìn)行劃片,把晶圓切割成一顆顆單獨(dú)芯片,之后需要把單獨(dú)的芯片從粘性膜上取下來(lái),轉(zhuǎn)入托盤(pán),料帶或者直接貼裝在基板上。從粘性膜上吸取芯片的過(guò)程中,因?yàn)槟び姓承?,直接用吸嘴從膜上吸取,真空力無(wú)法克服膜的粘力,取不下來(lái)。需要把芯片從膜上頂起來(lái),使芯片的大部分與膜脫離,只剩下很下的部分還和膜粘著,這樣吸嘴從上面吸取芯片,所需要克服的粘力就很小了,就可以很順利的把芯片吸走了?,F(xiàn)有的把芯片從膜上頂升,讓芯片和膜剝離的方法,主要是頂針的方法,芯片頂升時(shí),頂升座用真空吸附住膜,從芯片的正下方,頂起一根或多根,頂針前端磨細(xì),針尖做成圓弧,保證既可以減少接觸面積,又不會(huì)頂破膜。頂針頂升時(shí),因?yàn)橹苓叺哪け徽婵瘴皆谙旅娴捻斏希挥许斸樏俺霭研酒斏?,芯片周邊的膜?huì)從芯片上剝離開(kāi),只剩下頂針處還有很小面積的膜還接觸著芯片,這樣膜的粘力就很弱了,上面的真空吸嘴就可以把芯片吸走了。頂針的方法,可以對(duì)應(yīng)厚度超過(guò)100微米的芯片,厚的芯片,剛性比較好,頂針頂升時(shí)。鎢鋼非標(biāo)頂針定制價(jià)格蘇州昕昀秉持著“敬業(yè)、團(tuán)體、創(chuàng)新”的企業(yè)精神,逐步形成了強(qiáng)大的技術(shù)支持。
該升降驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括設(shè)于c形基座310上的升降裝置、穿設(shè)于支撐筒320中的貫通孔324內(nèi)的頂桿410以及用于連接頂桿410與頂塊500的連接塊510。如圖5與圖7所示,頂桿410上由上至下依次套設(shè)有導(dǎo)套430與彈簧420,導(dǎo)套430與位于貫通孔324頂部的阻擋部325相抵,彈簧420與位于頂桿410底部的凸起端頭411相抵。頂桿410底部的凸起端頭411穿過(guò)基座310上的通孔314伸入基座310中。頂桿410的頂端穿出阻擋部325伸入真空吸頭330的殼筒334內(nèi)。如圖6所示,連接塊510置于殼筒334內(nèi),連接塊510的底面上具有容置腔511,頂桿410頂端伸入該容置腔511內(nèi),連接塊510的外壁上設(shè)有滑槽513,該滑槽513內(nèi)布置有定位桿514,定位桿514插設(shè)于支撐筒320頂壁上的定位插孔內(nèi),以此來(lái)避免連接塊510發(fā)生轉(zhuǎn)動(dòng)。連接塊510的外壁上還設(shè)有連通容置腔511的連接孔515,通過(guò)穿入連接孔515并與頂桿410外壁相抵的螺栓實(shí)現(xiàn)頂桿410與連接塊510的連接固定。為便于組裝與拆卸,連接塊510與頂塊500間的連接方式如圖6所示:頂塊500的底面上設(shè)有放置腔,放置腔內(nèi)設(shè)有圈形磁鐵560,連接塊510吸附于該圈形磁鐵560上。使連接塊510與頂塊500間能夠方便的通過(guò)磁力進(jìn)行裝配與分離。如圖1和圖5所示。
10只)測(cè)試探針連接桿萬(wàn)用表筆特尖針表筆測(cè)試線硅膠萬(wàn)用表表筆組合換針華榮探針PCB彈簧頂針I(yè)CT大號(hào)探針測(cè)試針測(cè)試探針/針套P100系藍(lán)牙耳機(jī)pogopin充電彈簧針伸縮測(cè)試天線頂針大電流PCB探針觸點(diǎn)針測(cè)試針P50探針華榮華B1尖頭A2凹杯D2圓形Q2四爪2S可伸縮彈簧頂針測(cè)試針P75-B1探針可伸縮彈華榮華簧頂針頭pcb電路板針套圓爪尖頭測(cè)試探針p100可伸縮彈簧頂針華榮華電路板燒錄芯片圓頭平頭針套測(cè)試針P50探針華榮華B1尖頭G2平頭D2圓頭Q1四爪可伸縮彈簧頂針測(cè)試針探針PL75可伸縮彈簧頂針頭電路板華榮華圓頭平頭傘型頭針套P100-B(尖頭)測(cè)試針、探針、、彈簧針(10只)彈簧頂針大電流探針測(cè)試針pogopin彈簧插針彈簧天線頂針伸縮銅針測(cè)試針P50探針可伸縮彈簧頂針華榮華B1尖頭A2凹杯D2圓形Q2四爪2S華榮華探針p100測(cè)試針pcb電路板燒錄芯片A2頭針套可伸縮彈簧頂針測(cè)試針探針可伸縮PL75-B1彈簧頂針頭pcb電路板華榮華針套圓爪尖頭華榮探針PCB彈簧頂針I(yè)CT測(cè)試探針測(cè)試針測(cè)試探針/針套P100系原裝華榮測(cè)試針探針P100-A2BD2E2HJLM2彈簧針探針尖頭平梅花圓PH-2A2H3H4B5D5J5H6G華榮探針彈簧頂針一體探針測(cè)試針pogopin大電流彈簧頂針電池連接器測(cè)試探針雙頭針PIN針定位針觸針1mm粗探針汽車維修測(cè)試。具體頂針探針阻抗彈力試驗(yàn)機(jī)技術(shù)規(guī)格及參數(shù)或需求更多產(chǎn)品可來(lái)電查詢。
圖2為實(shí)施例一提供的球面帽蓋的俯視圖;圖3為實(shí)施例一提供的球面頂針帽的局部大樣圖;圖4為實(shí)施例一提供的球面頂針帽與傳統(tǒng)帽蓋的對(duì)比使用示意圖;圖5為實(shí)施例二提供的球面頂針帽的剖視圖;圖6為實(shí)施例三提供的球面頂針帽的剖視圖;圖7為實(shí)施例四提供的球面頂針帽的剖視圖;圖中:100-帽蓋,110-通孔,120-安裝塊,200-帽體,210-倒角,300-頂針,400-貼膜,500-芯片,600-安裝槽。具體實(shí)施方式為使本實(shí)用新型實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖,對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。通常在此處附圖中描述和示出的本實(shí)用新型實(shí)施例的組件可以以各種不同的配置來(lái)布置和設(shè)計(jì)。因此,以下對(duì)在附圖中提供的本實(shí)用新型的實(shí)施例的詳細(xì)描述并非旨在限制要求保護(hù)的本實(shí)用新型的范圍,而是**表示本實(shí)用新型的選定實(shí)施例?;诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。應(yīng)注意到:相似的標(biāo)號(hào)和字母在下面的附圖中表示類似項(xiàng),因此,一旦某一項(xiàng)在一個(gè)附圖中被定義。目前中國(guó)的實(shí)體經(jīng)濟(jì)由于用人成本的增加。紹興頂針大概多少錢(qián)
該頂桿410與支撐筒320的貫通孔324內(nèi)壁間設(shè)有密封圈,由此實(shí)現(xiàn)支撐筒320與頂桿410間的氣密。開(kāi)封T型頂針
芯片500與帽體200的90度拐角處直接接觸導(dǎo)致的破損。實(shí)施例四:本實(shí)施例與實(shí)施例一大體一致;主要區(qū)別點(diǎn)在于,如圖7所示,球缺形帽蓋100的頂部為平面且該平面平行于球缺底面,具體的,該平面的為直徑為r的圓形,直徑為r的平面覆蓋了**內(nèi)部的兩圈通孔110,保證中間通孔110出現(xiàn)頂針300時(shí),外圈通孔110對(duì)貼膜400有持久的吸附力。當(dāng)頂部通孔110吸附芯片500時(shí),由于芯片500不能彎曲,所以當(dāng)實(shí)施例一中的球缺形帽蓋100為塑性材料制作而成時(shí),帽蓋100對(duì)于芯片500之間有相對(duì)間隙,達(dá)不到**好的吸附效果;直徑為r的平面增大了帽蓋頂部對(duì)貼膜400的接觸面,變相增大了與芯片500之間的接觸面,減小了上述的相對(duì)間隙,增大了吸附力,更有利于配合頂針向上頂,使芯片與貼膜分離。需要說(shuō)明的是,實(shí)施例一至三中的球缺形帽蓋100為彈性材料制作而成時(shí),帽蓋100在頂部可輕微變形也能有效地保證與貼膜400的接觸面積,減小相對(duì)間隙,增大了吸附力,有利于配合頂針向上頂,使芯片與貼膜分離。以上所述*為本實(shí)用新型的推薦實(shí)施例而已,并不用于限制本實(shí)用新型,對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō),本實(shí)用新型可以有各種更改和變化。凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等。開(kāi)封T型頂針
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