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常州扁頂針

來源: 發(fā)布時(shí)間:2021-11-20

    探針頂針荷重行程阻抗試驗(yàn)機(jī)簡(jiǎn)介:探針頂針荷重行程阻抗試驗(yàn)機(jī)適用于各種頂針、探針、按鍵、開關(guān)之荷重-行程-阻抗曲線測(cè)試。測(cè)試產(chǎn)品力值行程的同時(shí)可以測(cè)試接觸電阻。頂針探針一般行程零點(diǎn)幾毫米的時(shí)候力值才20克左右,力值小,行程精度高所以對(duì)試驗(yàn)機(jī)要求較高。另外頂針探針的接觸電阻在幾毫歐以內(nèi),對(duì)測(cè)頭以及測(cè)試底板表面處理要求高。我司此款試驗(yàn)機(jī)測(cè)試頂針探針荷重行程的同時(shí)可以測(cè)試其接觸電阻。探針頂針荷重行程阻抗試驗(yàn)機(jī)我司有兩款,一款是單軸的,適合抽檢測(cè)試,工程分析測(cè)試。另外一款是三軸的適合整版頂針探針的荷重行程測(cè)試,同時(shí)顯示出接觸電阻。此機(jī)器還可以測(cè)試壽命測(cè)試??梢栽O(shè)定打擊多少次以后就進(jìn)行壽命測(cè)試。目前我司試驗(yàn)機(jī)技術(shù)先進(jìn):DSP數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),工業(yè)以太網(wǎng)傳輸數(shù)據(jù),采樣速率高達(dá)27kHZ,***抗干擾能力。探針頂針荷重行程阻抗試驗(yàn)機(jī)特點(diǎn):量測(cè)曲線圖由電腦記憶,可隨時(shí)放大、縮小,一張A4紙可任意指定放置N個(gè)曲線圖。測(cè)定專桉可輸入上、下限規(guī)格值,測(cè)定結(jié)果可自動(dòng)判定OK或NO??奢斎霚y(cè)定行程及荷重,電腦自動(dòng)控制。荷重單位顯示N、Ib、gf、kgf可自由切換電腦直接列印及儲(chǔ)存荷重-行程曲線圖、檢查報(bào)表。(不需要方格紙。目前中國的實(shí)體經(jīng)濟(jì)由于用人成本的增加。常州扁頂針

    頂針探針荷重行程阻抗試驗(yàn)機(jī)規(guī)格:測(cè)試荷重種類;2kgf、500gf(任選1個(gè))**小顯示荷重:**大測(cè)試行程:100mm**小顯示行程:()測(cè)定速度范圍:1-300mm/min(可以達(dá)600mm/min)傳動(dòng)機(jī)構(gòu):滾珠螺桿采樣速率:27KHZ目前我司試驗(yàn)機(jī)技術(shù)先進(jìn):DSP數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),工業(yè)以太網(wǎng)傳輸數(shù)據(jù),采樣速率高達(dá)27kHZ,***抗干擾能力。頂針探針荷重行程阻抗試驗(yàn)機(jī)簡(jiǎn)介:此款試驗(yàn)機(jī)為測(cè)試頂針探針量身定制,頂針和探針力值、行程、接觸電阻為三個(gè)主要測(cè)試指標(biāo)。我司此款機(jī)器可以同時(shí)測(cè)試頂針的荷重-位移-電阻曲線,同時(shí)也可以測(cè)試頂針的壽命測(cè)試。通過電腦設(shè)定儲(chǔ)存數(shù)據(jù),是一款很好的頂針探針試驗(yàn)機(jī)器。在測(cè)試頭與底部測(cè)試夾具都需要精細(xì)處理,以便能保證測(cè)試細(xì)小的接觸電阻。頂針荷重行程阻抗試驗(yàn)機(jī)特點(diǎn):※可以測(cè)試頂針的微小接觸阻抗、同時(shí)能測(cè)試出頂針的荷重行程曲線※量測(cè)曲線圖由電腦記憶,可隨時(shí)放大、縮小,一張A4紙可任意指定放置N個(gè)曲線圖。※測(cè)定專桉可輸入上、下限規(guī)格值,測(cè)定結(jié)果可自動(dòng)判定OK或NO?!奢斎?*大測(cè)定行程及荷重,電腦自動(dòng)控制。※荷重單位顯示N、Ib、gf、kgf可自由切換※電腦直接列印及儲(chǔ)存荷重-行程曲線圖、檢查報(bào)表。(不需要方格紙。嘉興頂針句相關(guān)分類溫濕度試驗(yàn)設(shè)備高溫、低溫、高低溫試驗(yàn)設(shè)備壓力試驗(yàn)機(jī)拉力扭力(矩)。

    本實(shí)用新型涉及裝片裝置,具體而言,涉及一種球面頂針帽。背景技術(shù):芯片裝片過程中,需要頂針帽吸附放置有芯片的貼片膜,頂針帽的帽體內(nèi)部設(shè)置有頂針,用于將需要吸取的芯片頂出一定距離以便于芯片被吸取。傳統(tǒng)的頂針帽的帽蓋分為兩種:一種為帶有環(huán)形溝槽的帽蓋,另一種為平面帶孔帽蓋,但對(duì)于這兩種帽蓋面對(duì)貼膜粘性較大時(shí)均需要頂針用較大的頂出高度來提供足夠的能量使芯片和貼膜分離,但是當(dāng)出現(xiàn)較大的頂出高度時(shí),相鄰的芯片之間易發(fā)生碰撞造成芯片邊緣崩裂;再者,對(duì)于芯片尺寸較大時(shí)或貼膜粘性不穩(wěn)定時(shí),芯片不易拾取,勉強(qiáng)拾取時(shí),芯片發(fā)生旋轉(zhuǎn)或移位,造成芯片懸掛,為了穩(wěn)定的拾取芯片,不得不降低速度,損失機(jī)器產(chǎn)能。公開號(hào)為cnu的中國實(shí)用新型**,具體公開了一種裝片機(jī)頂針,其帽蓋為光滑平面結(jié)構(gòu),當(dāng)貼膜粘度較大時(shí)或者芯片尺寸較大時(shí),不能有效的使芯片與底部貼膜分離。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:本實(shí)用新型的目的在于提供一種球面頂針帽,通過改變傳統(tǒng)帽蓋的結(jié)構(gòu)使頂針帽能有效的分離芯片和底部貼膜。本實(shí)用新型的實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的:一種球面頂針帽,包括用于容置頂針的帽體,帽體一端設(shè)有帽蓋,帽蓋為球缺且其球冠頂點(diǎn)凸出于帽體。

    高溫恒濕試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品用途:...銷售二手溫度試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品用途:...銷售二手濕熱試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品用途:產(chǎn)品適用于考察...三軸頂針探針阻抗荷重行程試驗(yàn)機(jī)簡(jiǎn)介:此款試驗(yàn)機(jī)為測(cè)試頂針探針量身定制,頂針和探針力值、行程、接觸電阻為三個(gè)主要測(cè)試指標(biāo)。我司此款機(jī)器可以同時(shí)測(cè)試頂針的荷重-位移-電阻曲線,同時(shí)也可以測(cè)試頂針的壽命測(cè)試。通過電腦設(shè)定儲(chǔ)存數(shù)據(jù),是一款很好的頂針探針試驗(yàn)機(jī)器。在測(cè)試頭與底部測(cè)試夾具都需要精細(xì)處理,以便能保證測(cè)試細(xì)小的接觸電阻。對(duì)于一版有多個(gè)探針(頂針)的產(chǎn)品,我司可以實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)試,對(duì)于細(xì)小頂針的測(cè)試我司也有豐富的經(jīng)驗(yàn)微克檢測(cè)設(shè)備限公司結(jié)合市場(chǎng)上客戶需要,開發(fā)出探針頂針荷重阻抗行程試驗(yàn)機(jī)。目前中國的實(shí)體經(jīng)濟(jì)由于用人成本的增加,加上人員難招難管理,已經(jīng)開始慢慢向自動(dòng)化或半自動(dòng)化方向發(fā)展。自動(dòng)化的程度提高,在檢測(cè)方面會(huì)使用到大量的頂針探針以測(cè)試電子設(shè)備的一些性能指標(biāo)。所以對(duì)頂針探針的一些測(cè)試指標(biāo)就有所要求。頂針探針是通過自身的彈性接觸面以及力度來保證與電子產(chǎn)品的有效接觸。彈力太小或太大、接觸電阻太大、行程不符合要求都會(huì)對(duì)測(cè)試產(chǎn)生影響。所以就需要對(duì)此些數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)。該頂桿410與支撐筒320的貫通孔324內(nèi)壁間設(shè)有密封圈,由此實(shí)現(xiàn)支撐筒320與頂桿410間的氣密。

    圖2為實(shí)施例一提供的球面帽蓋的俯視圖;圖3為實(shí)施例一提供的球面頂針帽的局部大樣圖;圖4為實(shí)施例一提供的球面頂針帽與傳統(tǒng)帽蓋的對(duì)比使用示意圖;圖5為實(shí)施例二提供的球面頂針帽的剖視圖;圖6為實(shí)施例三提供的球面頂針帽的剖視圖;圖7為實(shí)施例四提供的球面頂針帽的剖視圖;圖中:100-帽蓋,110-通孔,120-安裝塊,200-帽體,210-倒角,300-頂針,400-貼膜,500-芯片,600-安裝槽。具體實(shí)施方式為使本實(shí)用新型實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖,對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。通常在此處附圖中描述和示出的本實(shí)用新型實(shí)施例的組件可以以各種不同的配置來布置和設(shè)計(jì)。因此,以下對(duì)在附圖中提供的本實(shí)用新型的實(shí)施例的詳細(xì)描述并非旨在限制要求保護(hù)的本實(shí)用新型的范圍,而是**表示本實(shí)用新型的選定實(shí)施例?;诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。應(yīng)注意到:相似的標(biāo)號(hào)和字母在下面的附圖中表示類似項(xiàng),因此,一旦某一項(xiàng)在一個(gè)附圖中被定義。試驗(yàn)機(jī)校準(zhǔn)不設(shè)任何密碼,可以自主校驗(yàn),保質(zhì)期過后可以自主找其他供貨商維修。常州扁頂針

公司主要產(chǎn)品有:力學(xué)檢測(cè)儀器、中英文工控組態(tài)軟件、力量傳感器,阻抗模塊,數(shù)據(jù)采集卡等等。常州扁頂針

    頂針探針荷重行程阻抗試驗(yàn)機(jī)簡(jiǎn)介:頂針荷重行程阻抗試驗(yàn)機(jī)適用于各種頂針、探針、按鍵、開關(guān)之荷重-行程-阻抗曲線測(cè)試。測(cè)試產(chǎn)品力值行程的同時(shí)可以測(cè)試接觸電阻。頂針探針一般行程零點(diǎn)幾毫米的時(shí)候力值才20克左右,力值小,行程精度高所以對(duì)試驗(yàn)機(jī)要求較高。另外頂針探針的接觸電阻在幾毫歐以內(nèi),對(duì)測(cè)頭以及測(cè)試底板表面處理要求高。我司此款試驗(yàn)機(jī)測(cè)試頂針探針荷重行程的同時(shí)可以測(cè)試其接觸電阻。頂針探針荷重行程阻抗試驗(yàn)機(jī)我司有兩款,一款是單軸的,適合抽檢測(cè)試,工程分析測(cè)試。另外一款是三軸的適合整版頂針探針的荷重行程測(cè)試,同時(shí)顯示出接觸電阻。此機(jī)器還可以測(cè)試壽命測(cè)試。可以設(shè)定打擊多少次以后就進(jìn)行壽命測(cè)試。PogoPin荷重行程阻抗試驗(yàn)機(jī)目前我司試驗(yàn)機(jī)技術(shù)先進(jìn):DSP數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),工業(yè)以太網(wǎng)傳輸數(shù)據(jù),采樣速率高達(dá)27kHZ,***抗干擾能力。探針荷重行程阻抗試驗(yàn)機(jī)特點(diǎn):量測(cè)曲線圖由電腦記憶,可隨時(shí)放大、縮小,一張A4紙可任意指定放置N個(gè)曲線圖。測(cè)定專桉可輸入上、下限規(guī)格值,測(cè)定結(jié)果可自動(dòng)判定OK或NO。可輸入大測(cè)定行程及荷重,電腦自動(dòng)控制。荷重單位顯示N、Ib、gf、kgf可自由切換電腦直接列印及儲(chǔ)存荷重-行程曲線圖、檢查報(bào)表。(不需要方格紙。常州扁頂針

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標(biāo)簽: 沖頭 頂針