免费视频禁止18网站,破解福利av软件大全,成人在线亚洲,日本护士在线视频xxxx免费,伊人狠狠丁香婷婷综合色,免费黄色网站视频在线观看,亚洲国产成人99精品激情在线

上述步驟7210至7240可以重復操作以此來縮小內(nèi)爆時間τi的范圍。在知道內(nèi)爆時間τi后，τ1可以在安全系數(shù)下設置為小于τi的值。以下段落用于敘述本實驗的一實例。假設圖案結構為55nm的多晶硅柵線，超聲波的頻率為1mhz，使用prosys制造的超聲波或兆聲波裝置，采用間隙振蕩模式(在pct/cn2008/073471中披露)操作以在晶圓內(nèi)和晶圓間獲得更均勻能量分布。以下表2總結了其他試驗參數(shù)以及**終的圖案損傷數(shù)據(jù)：表2在一個試驗中，當τ1＝2ms(或周期數(shù)為2000)時，前面提到的聲波清洗工藝在55nm的特征尺寸下，對圖案結構造成的損傷高達1216個點。當τ1＝(或周期數(shù)為100)時...

該***邊結構區(qū)域與該第三邊結構區(qū)域的寬度相同。進一步的，為了讓基板結構所承載的半導體組件的設計更加簡化，其中該***邊結構區(qū)域、該第二邊結構區(qū)域、該第三邊結構區(qū)域與該第四邊結構區(qū)域的寬度相同。進一步的，為了讓基板結構適應所承載的半導體組件的不同設計，其中該邊框結構區(qū)域依序包含***邊結構區(qū)域、第二邊結構區(qū)域、第三邊結構區(qū)域與第四邊結構區(qū)域，該***邊結構區(qū)域與該第三邊結構區(qū)域的寬度不同。進一步的，為了讓基板結構適應所承載的半導體組件的具有更大的設計彈性，其中該***邊結構區(qū)域、該第二邊結構區(qū)域、該第三邊結構區(qū)域與該第四邊結構區(qū)域的寬度均不相同。進一步的，為了配合大多數(shù)矩形芯片的形狀，...

周期測量模塊30104用于通過使用以下公式的計數(shù)器測量高電平和低電平信號的持續(xù)時間：τ1＝counter_h*20ns,τ2＝counter_l*20ns其中，counter_h為高電平的數(shù)量，counter_l為低電平的數(shù)量。主控制器26094比較計算出的通電時間和預設時間τ1，如果計算出的通電時間比預設時間τ1長，主控制器26094發(fā)送報警信號到主機25080，主機25080接收到報警信號則關閉聲波發(fā)生器25082。主控制器26094比較計算出的斷電時間和預設時間τ2，如果計算出的斷電時間比預設時間τ2短，主控制器26094發(fā)送報警信號到主機25080，主機25080接收到報警信號...

所述切割腔靠下位置向前開口設置，所述切割腔的底面上前后滑動設有接收箱，所述接收箱內(nèi)設有開口向上的接收腔，所述接收腔與所述切割腔連通，所述接收腔內(nèi)存有清水，所述接收箱的前側面固設有手拉桿。進一步的技術方案，所述動力機構包括固設在所述動力腔底壁上的第三電機，所述第三電機的頂面動力連接設有電機軸，所述電機軸的頂面固設有***轉盤，所述升降腔的上下壁之間轉動設有***螺桿，所述***螺桿貫穿所述升降塊，并與所述升降塊螺紋連接，所述***螺桿向下延伸部分伸入所述動力腔內(nèi)，且其底面固設有第二輪盤，所述第二輪盤的底面與所述***轉盤的頂面鉸接設有第三連桿，所述第二輪盤直徑大于所述***轉盤的直徑。進...

結構500所包含的該金屬層510的第四表面514并不是像該結構400所包含的該金屬層310的第四表面314一樣是平面。第四表面514的剖面相應于該金屬層的第三表面513的剖面。該金屬層510的第四表面514與該晶圓層320的***表面321的**短距離，要小于該金屬層310的第四表面314與該晶圓層320的***表面321的**短距離。由于該結構500的金屬層510的大部分比該結構400的金屬層310的大部分較薄，因此可以節(jié)省金屬本身的成本，也可以節(jié)省制作該金屬層510的步驟的成本。請參考圖5b所示，其為根據(jù)本申請一實施例的半導體基板的結構500的剖面示意圖。圖5b所示的實施例是圖5a...

本發(fā)明涉及半導體加工制造領域，尤其涉及一種半導體晶圓表面缺陷的快速超高分辨檢測系統(tǒng)。背景技術：半導體缺陷檢測系統(tǒng)是半導體器件制作前用于識別襯底或外延層缺陷數(shù)量、沾污面積、表面顆粒物數(shù)量，從而進行襯底或外延層的篩選，器件制造良率的計算，是半導體器件制作的關鍵工序。缺陷檢測貫穿生產(chǎn)過程，未及時修正將導致**終器件失效。集成電路的設計、加工、制造以及生產(chǎn)過程中，各種人為、非人為因素導致錯誤難以避免，造成的資源浪費、危險事故等代價更是難以估量。在檢測過程中會對芯片樣品逐一檢查，只有通過設計驗證的產(chǎn)品型號才會開始進入量產(chǎn)，由于其發(fā)生在芯片制造**早環(huán)節(jié)，性價比相對**高，可為芯片批量制造指明接下...

以防止氣泡長大到一個臨界尺寸，從而堵住清洗液在通孔或槽中的交換路徑。圖20a至圖20d揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的聲波晶圓清洗工藝有效清洗具有高深寬比的通孔或槽等特征。該晶圓清洗工藝限制由聲能引起振蕩產(chǎn)生的氣泡的尺寸。圖20a揭示了在時間段τ1內(nèi)設置功率水平為p1及在時間段τ2內(nèi)關閉電源的電源輸出波形圖。圖20b揭示了對應每個氣穴振蕩周期的氣泡體積的曲線圖。圖20c揭示了在每個氣穴振蕩周期氣泡尺寸增大。圖20d揭示了氣泡的總體積vb與通孔、槽或其他凹進區(qū)域的體積vvtr的比值r的曲線圖。根據(jù)r＝vb/vvtr＝nvb/vvtr這里，氣泡的總體積vb與通孔、槽或其他凹進區(qū)域的體積vvt...

聲波能量不能有效地傳遞到通孔或槽中，到達它們的底部和側壁，而微粒、殘留物和其他雜質18048則被困在通孔或槽中。當臨界尺寸w1變小時，這種情況很容易發(fā)生在先進的半導體工藝中。參考圖18i至圖18j所示，氣泡18012的尺寸增大控制在一定范圍內(nèi)，氣泡總體積vb與通孔或槽或其他凹進區(qū)域的總體積vvtr的比值r遠低于飽和點rs。因為在特征內(nèi)有小氣泡氣穴振蕩，新鮮的清洗液18047在通孔或槽中自由交換，使得殘留物和顆粒等雜質18048可以輕易地排出，從而獲得良好的清洗性能。由于通孔或槽中氣泡的總體積由氣泡的數(shù)量和大小決定，因此控制氣穴振蕩引起的氣泡尺寸膨脹對于具有高深寬比特征的晶圓的清洗性能至...

使得該邊框結構區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該***內(nèi)框結構區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離。進一步的，為了讓基板區(qū)域的電阻值降低，其中在該蝕刻步驟進行一部份后，再將該屏蔽層覆蓋到該第二內(nèi)框結構區(qū)域，使得在該邊框結構區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該第二內(nèi)框結構區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離。進一步的，為了盡可能地利用晶圓的面積來制作不同芯片，其中該多個芯片區(qū)域包含一第二芯片區(qū)域，該***芯片區(qū)域與該第二芯片區(qū)域的形狀不同。進一步的，為了使用晶圓級芯片制造技術來加速具有上述基板結構的芯片制作，其中該多個芯片區(qū)域當中的每一個芯片區(qū)域和該**...

如許多中小型的太陽能電池板廠商紛紛表示要進軍電子級硅晶圓片產(chǎn)業(yè)，但電子級硅晶圓材料比電池用硅晶圓純度高出好幾個數(shù)量級，兩者并不在同一個技術水平，況且太陽能電池板廠商下游與半導體產(chǎn)業(yè)鏈相差甚遠，所有的使用者關系需重新建立，也不利于后期產(chǎn)品的認證和銷售。這些問題都需要半導體材料產(chǎn)業(yè)集中優(yōu)勢資源，針對各類別半導體材料，以一部分大廠為首，進行資源再整合。中國半導體材料產(chǎn)業(yè)面臨嚴峻挑戰(zhàn)現(xiàn)階段**政策積極引導，大基金和地方資本支撐，為中國半導體材料產(chǎn)業(yè)解決前期資金問題，但錢不一定能買來技術、人才與市場，因此后期中國半導體材料產(chǎn)業(yè)將面對更多來自技術、人才與客戶認證等方面的嚴峻挑戰(zhàn)。技術挑戰(zhàn)目前中國半...

所述的***相機位于二向色鏡的透射光路上，所述的第二相機位于二向色鏡的反射光路上。根據(jù)照明成像視場大小和掃描成像過程，圖像采集系統(tǒng)(包括***相機和第二相機)可以采用線陣掃描或者面陣掃描兩種方式，同時結合相應的圖像重構算法對所采集圖像實現(xiàn)快速對準拼接處理。推薦的，所述的倏逝場移頻照明光源的排布為360度光纖束端面輸出、分段式波導端面輸出或波導環(huán)型表面倏逝場耦合輸出。移頻照明源如采用光纖束輸出，倏逝場照明源載具可以采用加持的方式與輸出光纖束配合使用，也可采用內(nèi)置方式將輸出光纖束固定其中。如采用分段式波導端面輸出，可以制備集成光波導結構。如采用波導表面倏逝場耦合方式，需要制備數(shù)組可轉換光源...

在半導體晶圓制造過程中，光阻層的涂敷、曝光和成像對元器件的圖案制造來說是必要的工藝步驟。在圖案化的***(即在光阻層的涂敷、成像、離子植入和蝕刻之后)進行下一工藝步驟之前，光阻層材料的殘留物需徹底除去。至今在半導體制造工業(yè)中一般使用兩步法(干法灰化和濕蝕刻)除去這層光阻層膜。第一步利用干法灰化除去光阻層(PR)的大部分；第二步利用緩蝕劑組合物濕蝕刻/清洗工藝除去且清洗掉剩余的光阻層，其步驟一般為清洗液清洗/漂洗/去離子水漂洗。在這個過程中只能除去殘留的聚合物光阻層和無機物，而不能攻擊損害金屬層如鋁層。技術實現(xiàn)要素：本發(fā)明旨在提供了一種用于半導體晶圓等離子蝕刻殘留物的清洗液。本發(fā)明提供如...

該晶圓層320的該***表面321與第二表面322的**小距離可以是**大距離的一半。換言之，該晶圓層320的電阻值約略是該晶圓層120的一半。在另外的實施例當中，該***表面321與第二表面322的**小距離與**大距離的比值，可以是其他小于100%的比例。如此，在芯片的邊緣處具有較厚的晶圓層320，但是降低在芯片中間有半導體元器件之處的晶圓厚度。此外，可以在降低該晶圓層320中間的電阻值的同時，可以維持芯片結構強度，降低工藝過程中的器件失效。在一實施例當中，該芯片邊緣較厚的晶圓層320，其左右的寬度可以介于50~200um之間。本領域普通技術人員可以理解到，可以根據(jù)該芯片所實作的半...

圖11a所示的實施例是圖8a所示的結構800，因此使用了金屬層810與晶圓層820的符號。但本領域普通技術人員可以理解到，剖面1100可以適用于結構900或1000，金屬層810可以代換為金屬層1010。先前提到過，本申請并不限定內(nèi)框結構的形狀。舉例來說，內(nèi)框結構可以是x字型，還可以是v字型，也可以是井字型，也就是兩組互相垂直的并行線結構。在圖11a所示的實施例當中，晶圓層820的外緣形狀是正方形，用白色來表示。晶圓層820的四個邊框的820a寬度相等。在金屬層810a的內(nèi)部，還有晶圓層的內(nèi)框結構820b。該內(nèi)框結構820b的內(nèi)部尚有金屬層810b。圖11a所示晶圓層820的邊框結構8...

在步驟10010中，將超聲波或兆聲波裝置置于晶圓的上表面附近。在步驟10020中，將清洗液，可以是化學液或摻了氣體的水噴射到晶圓表面以填滿晶圓和聲波裝置之間的間隙。在步驟10030中，卡盤攜帶晶圓開始旋轉以進行清洗工藝。在步驟10040中，頻率為f1以及功率水平為p1的電源被應用于聲波裝置。在步驟10050中，當頻率保持在f1時，電源的功率水平在氣泡內(nèi)氣體和/或蒸汽的溫度達到內(nèi)爆溫度ti之前，或在時間τ1達到由公式(11)計算的τi之前，降低到p2。在步驟10060中，氣泡內(nèi)氣體和/或蒸汽溫度降至接近室溫t0或持續(xù)時間達到τ2后，電源的功率水平恢復到p1。在步驟10070中，檢查晶圓的...

非脈沖模式)時晶圓上的通孔或槽確定沒有被清洗干凈；第四步是采用sems或元素分析工具如edx檢測以上五片晶圓的通孔或槽內(nèi)的可追蹤的殘留物狀態(tài)。步驟一至步驟四可以重復數(shù)次以逐步縮短時間τ2直到觀察到通孔或槽內(nèi)的可追蹤殘留物。由于時間τ2被縮短，氣泡的體積無法徹底縮小，從而將逐步堵塞圖案結構并影響清洗效果，這個時間被稱為臨界冷卻時間τc。知道臨界冷卻時間τc后，時間τ2可以設置為大于2τc以獲得安全范圍。更詳細的舉例如下：***步是選擇10個不同的時間τ1作為實驗設計(doe)的條件，如下表3所示的τ10，2τ10,4τ10,8τ10,16τ10,32τ10,64τ10,128τ10,25...

本申請還提供具有上述基板結構的半導體晶圓，以及制作上述基板結構的晶圓制造方法。根據(jù)本申請的方案，提供具有邊框結構的基板結構、半導體晶圓、以及晶圓制作方法。根據(jù)本申請的一方案，提供一種承載半導體組件的基板結構，其特征在于，包含：一晶圓層，具有相對應的一***表面與一第二表面，其中該第二表面具有向該***表面凹陷的一中心凹陷區(qū)域，該中心凹陷區(qū)域位于該第二表面當中，使得該晶圓層的一邊框結構區(qū)域環(huán)繞在該第二表面周圍；以及一金屬層，具有相對應的一第三表面與一第四表面，該第三表面完全貼合于該第二表面。進一步的，為了彌補較薄晶圓層的結構強度，其中該第二表面更包含具有向該***表面凹陷的一***環(huán)狀凹...

所述送料腔內(nèi)設有可在切割狀態(tài)時限制所述滑塊左右晃動，并在所述滑塊移動狀態(tài)時打開的穩(wěn)定機構，所述送料腔的左側連通設有切割腔，所述切割腔內(nèi)設有可用于切割的切割片，所述切割腔的左側連通設有升降腔，所述升降腔的內(nèi)壁上設有可帶動所述切割片升降的升降塊，所述升降腔的下側開設有動力腔，所述動力腔內(nèi)設有可控制所述升降塊間歇性往返升降，來達到連續(xù)切割狀態(tài)的動力機構，所述切割腔靠上側位置設有兩個左右對稱，且能用來冷卻所述切割片的海綿，所述切割腔的靠上側位置左右兩側連通設有冷卻水腔，是冷卻水腔的上側連通設有傳動腔，所述傳動腔內(nèi)設有可控制所述海綿在所述切割片上升時抵接所述切割片，達到冷卻效果的傳動機構，所述傳...

用于集成電路生產(chǎn)的材料依然以進口為主，中國生產(chǎn)替代空間非常龐大。未來隨著多條中國新建晶圓制造產(chǎn)線陸續(xù)投產(chǎn)，預計2018年將為中國當?shù)匕雽w材料產(chǎn)業(yè)發(fā)展帶來新契機。未來中國半導體材料產(chǎn)業(yè)發(fā)展趨勢將從兩方面同步進行：集中優(yōu)勢資源，針對各類別半導體材料，以一部分大廠為首，進行資源再整合；建立完善的半導體材料體系，加快**材料的研發(fā)，實現(xiàn)中國國產(chǎn)替代。中國半導體材料產(chǎn)業(yè)雖然克服了政策和資金的障礙，但仍面對來自技術、人才與客戶認證等方面的嚴峻挑戰(zhàn)。未來產(chǎn)業(yè)將著重解決以下問題：基礎**瓶頸突破進展緩慢、半導體材料人才儲備和培養(yǎng)嚴重不足、聯(lián)合**協(xié)調作用，以及率先突破當?shù)卣J證關卡。目前中國半導體材料...

術語“安裝”、“相連”、“連接”、“固定”等術語應做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接；可以是機械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內(nèi)部的連通。對于本領域的普通技術人員而言，可以根據(jù)具體情況理解上述術語在本發(fā)明中的具體含義。如圖1所示為一種半導體晶圓表面缺陷的快速檢測系統(tǒng)圖，包括入射光源101，耦合物鏡102，***透鏡103，***104，第二透鏡105，***濾光片106，***偏振片107，柱面鏡108，第三透鏡109，***相機110，第四透鏡111，第二偏振片112，第二濾光片113，偏振分光棱鏡11...

聲波能量不能有效地傳遞到通孔或槽中，到達它們的底部和側壁，而微粒、殘留物和其他雜質18048則被困在通孔或槽中。當臨界尺寸w1變小時，這種情況很容易發(fā)生在先進的半導體工藝中。參考圖18i至圖18j所示，氣泡18012的尺寸增大控制在一定范圍內(nèi)，氣泡總體積vb與通孔或槽或其他凹進區(qū)域的總體積vvtr的比值r遠低于飽和點rs。因為在特征內(nèi)有小氣泡氣穴振蕩，新鮮的清洗液18047在通孔或槽中自由交換，使得殘留物和顆粒等雜質18048可以輕易地排出，從而獲得良好的清洗性能。由于通孔或槽中氣泡的總體積由氣泡的數(shù)量和大小決定，因此控制氣穴振蕩引起的氣泡尺寸膨脹對于具有高深寬比特征的晶圓的清洗性能至...

氣穴振蕩是一種混沌現(xiàn)象?？栈瘹馀莸漠a(chǎn)生及其破裂受到很多物理參數(shù)的影響。這些猛烈的氣穴振蕩例如不穩(wěn)定的氣穴振蕩或微噴射將損傷這些圖案結構(鰭結構、槽和通孔)。在傳統(tǒng)的超聲波或兆聲波清洗過程中，只有當功率足夠高，例如大于5-10瓦時，才會產(chǎn)生***的顆粒去除效率(“pre”)。然而，當功率大于約2瓦時，晶圓開始有明顯的損傷。因此，很難找到功率窗口使得晶圓在被有效清洗時避免重大的損傷。因此，維持穩(wěn)定或可控的氣穴振蕩是控制聲波機械力低于損傷限度而仍然能夠有效地去除圖案結構中的雜質顆粒的關鍵。因此，提供一種系統(tǒng)和方法，用于控制在晶圓清洗過程中由超聲波或兆聲波設備產(chǎn)生的氣泡氣穴振蕩，以便能夠有效地...

聲波能量不能有效地傳遞到通孔或槽中，到達它們的底部和側壁，而微粒、殘留物和其他雜質18048則被困在通孔或槽中。當臨界尺寸w1變小時，這種情況很容易發(fā)生在先進的半導體工藝中。參考圖18i至圖18j所示，氣泡18012的尺寸增大控制在一定范圍內(nèi)，氣泡總體積vb與通孔或槽或其他凹進區(qū)域的總體積vvtr的比值r遠低于飽和點rs。因為在特征內(nèi)有小氣泡氣穴振蕩，新鮮的清洗液18047在通孔或槽中自由交換，使得殘留物和顆粒等雜質18048可以輕易地排出，從而獲得良好的清洗性能。由于通孔或槽中氣泡的總體積由氣泡的數(shù)量和大小決定，因此控制氣穴振蕩引起的氣泡尺寸膨脹對于具有高深寬比特征的晶圓的清洗性能至...

本申請關于半導體，特別是關于晶圓級芯片封裝基板結構的設計與制作。背景技術：現(xiàn)代電子裝置越來越輕薄短小，集成電路的尺寸不*縮小，還有薄型化的趨勢。相較于傳統(tǒng)芯片，薄型化的芯片能夠承受的物理應力與熱應力較小。在進行熱處理與其他加工工藝時，特別是當芯片焊貼到印刷電路板時，物理應力與熱應力容易造成基板的裂紋與/或翹曲，進而導致半導體元器件失效。除此之外，當芯片薄型化之后，由于導電的線路可能變小變窄，使得電阻增加。不利于降低消耗功率，也導致溫度上升的速度較快。當散熱效率無法應付溫度上升的速度時，可能需要額外的散熱組件，就喪失薄型化芯片的優(yōu)點。據(jù)此，需要一種具有較強強度的基板結構，以便減低芯片在進...

該金屬層凹陷區(qū)域在該第二表面的投影區(qū)域位于該中心凹陷區(qū)域當中。在一實施例中，為了設計與制作的方便，其中該金屬層凹陷區(qū)域與該中心凹陷區(qū)域的形狀相應，該金屬層凹陷區(qū)域的面積小于該中心凹陷區(qū)域的面積。總上所述，本申請?zhí)峁┝司哂袕姸容^大的基板結構的芯片，其具有晶圓層的邊框結構，也可以具有晶圓層的內(nèi)框結構，以便減低芯片在進行熱處理、加工與焊貼等工序時，因為應力或熱應力而導致失效的機率。在此同時，還要降低上述基板結構的電阻值，以便減少消耗功率，降低熱耗損，增進芯片的使用壽命。以上所述，*是本發(fā)明的較佳實施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制，雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā)...

請參考圖10a所示，其為根據(jù)本申請一實施例的半導體基板的結構1000的剖面示意圖。和圖9所示的實施例不同之處，在于該結構1000包含了金屬層1010與樹酯層1040。為了減薄在邊框結構與內(nèi)框結構之間的金屬層810，可以在上述區(qū)域中使用較厚的樹酯層1040來替換掉金屬層1010的金屬。和圖9所示的結構900相比，該金屬層1010的第四表面1014與該晶圓層820的***表面821的**短距離，要小于該金屬層810的第四表面與該晶圓層820的***表面的**短距離。由于該結構1000的金屬層1010的大部分比該結構900的金屬層810的大部分較薄，因此可以節(jié)省金屬本身的成本，也可以節(jié)省制作...

因此晶圓1010須旋轉以在整個晶圓1010上接收均勻的聲波能量。雖然在圖1a及圖1b中*示意了一個聲波裝置1003，但是在其他實施例中，也可以同時或間歇使用兩個或多個聲波裝置。同理，也可以使用兩個或多個噴頭1012以更均勻的輸送清洗液1032。參考圖2a至圖2g所示的不同形狀的超聲波或兆聲波換能器。圖2a示意了三角形或餅形的傳感器；圖2b示意了矩形的傳感器；圖2c示意了八邊形的傳感器；圖2d示意了橢圓形的傳感器；圖2e示意了半圓形的傳感器；圖2f示意了1/4圓形的傳感器；圖2g示意了圓形的傳感器。這些形狀中的每一個聲波換能器可以用于代替圖1所示的聲波裝置1003中的壓電式傳感器1004...

所述拉桿45向上延伸部分伸出外界，且其頂面固設有手握球46，所述限制塊39頂面與所述滑動腔43的頂壁之間固定安裝有彈簧44，當所述橫條33帶動所述第二齒牙34向上移動時，所述第二齒牙34可抵接所述限制塊39，并使所述限制塊39向上移動，進而可使所述限制塊39離開所述限制腔42，則可使所述滑塊47能夠正常向左移動，當所述滑塊47需要向右移動時，手動向上拉動所述手握球46，使所述限制塊39向上移動，并手動向右拉動所述手拉塊40，則所述橫板41可帶動所述滑塊47向右移動。另外，在一個實施例中，所述升降塊15的內(nèi)壁里固嵌有第二電機16，所述第二電機16的右側面動力連接設有切割軸51，所述切割片...

以防止氣泡長大到一個臨界尺寸，從而堵住清洗液在通孔或槽中的交換路徑。圖20a至圖20d揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的聲波晶圓清洗工藝有效清洗具有高深寬比的通孔或槽等特征。該晶圓清洗工藝限制由聲能引起振蕩產(chǎn)生的氣泡的尺寸。圖20a揭示了在時間段τ1內(nèi)設置功率水平為p1及在時間段τ2內(nèi)關閉電源的電源輸出波形圖。圖20b揭示了對應每個氣穴振蕩周期的氣泡體積的曲線圖。圖20c揭示了在每個氣穴振蕩周期氣泡尺寸增大。圖20d揭示了氣泡的總體積vb與通孔、槽或其他凹進區(qū)域的體積vvtr的比值r的曲線圖。根據(jù)r＝vb/vvtr＝nvb/vvtr這里，氣泡的總體積vb與通孔、槽或其他凹進區(qū)域的體積vvt...

所述第二螺桿57的外周上螺紋連接設有螺套58，所述螺套58與所述第四連桿54之間鉸接設有第五連桿56，通過所述第二螺桿57的間歇性正反轉動，可使所述螺套58間歇性升降移動，進而可使所述第五連桿56帶動所述第四連桿54間歇性往返左右移動，從而可使所述移動塊53帶動所述海綿52間歇性往返左右移動，則可使所述海綿52在所述切割片50上升時向所述切割片50移動并抵接，以及在所述切割片50下降時向所述移動腔13方向打開，通過所述冷卻水腔14內(nèi)的冷卻水，可保證所述海綿52處于吸水狀態(tài)。另外，在一個實施例中，所述傳動腔55的上側開設有皮帶腔60，所述皮帶腔60的底壁上轉動設有豎軸12，所述第二螺桿5...